CME-EL电致发光外量子效率测量系统_中科微能（北京）科技有限公司

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CME-EL电致发光外量子效率测量系统

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详细说明

CME-EL电致发光外量子效率测量系统（EQE)是一种紧凑，操作便捷，可在手套箱内完成搭建。发光材料的特征体现在它们的荧光量子产率。对于诸如有机和无机LED的发光器件，相应的物理特征表现值是外量子效率，通常通过电致发光（ELelectroluminescence）方法测量。

主要特点:

l可以测量L(cd/m2)、LmEff(cd/A)、EQE和CIE1931；

l光谱仪系统采用制冷型CCD信噪比高、杂散光低；

l体积小巧：便于灵活使用及运输；

l坚固、紧凑的设计，可以***限度减少实验室空间；

l专业软件，操作简单；软件显示：J-V曲线、L-J曲线、LmEff-J曲线、EQE-J曲线、CIE1931 XYGraph曲线。

技术参数

光谱仪

型号

CME-QE2000（可选）

光谱范围（nm）

300-1100nm

光谱仪分光元件

全息成像光柵

感光元件

电子冷卻型CCD影像感测器

信噪比

1000:01:00

分辨率

2.5nm(FWHM)

积分球

尺寸

100mm

涂层材质

Sperctralon

源表

型号

Keithley2400

光纤

芯径

800u

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